分析设备

SU3900SE/SE Plus SU3800SE/SE Plus 高分辨热场发射扫描电镜

  • 产品概述
  • 简介:

    SE系列集高性能与通用性于一身

    SU3900/SU3800 SE系列作为FE-SEM产品,配置超高分辨率与观察能力而且不像部分SEM产品,受安装样品尺寸与重量的限制,此系列可以通过简单的操作实现数据采集。可用于钢铁等工业材料,汽车、航空航天部件等超大、超重样品的观察。此外,SE系列包括4种型号(两种类型,两个等级),满足众多领域的测试需求。用户可以根据实际用途(如微观结构控制:用于改善电子元件、半导体等材料的功能和性能;异物、缺陷分析:用于提高产品品质)选择适合的产品。


    技术特点

    项目SU3900SE/SE PlusSU3800SE/SE Plus
    电子光学系统二次电子分辨率0.9 nm@30 kV
    2.5 nm@1 kV
    1.6 nm@1 kV(*1)
    放大倍率5~600,000×
    电子枪ZrO热场发射(肖特基热场发射)
    加速电压0.5 kV~30 kV
    着陆电压(*1)0.1 kV~2 kV
    束流最大150 nA
    真空系统低真空模式6~150 Pa
    探测器标配探测器二次电子探测器(SED)
    顶探测器(TD) (*2)
    5分割背散射电子探测器(BSED)
    选配探测器高灵敏度低真空探测器(UVD)
    马达台马达台驱动方式5轴优中心马达台
    移动范围
    X0~150 mm0~100 mm
    Y0~150 mm0~50 mm
    Z3~85 mm3~65 mm
    T-20~90°
    R360°
    样品仓样品尺寸最大直径300 mm最大直径200 mm


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