前处理仪器

EM TIC 3X 三离子束切割仪

  • 产品概述
  • 简介:

    三离子束切割仪可制备横切面和抛光表面,用于扫描电子显微镜 (SEM)、微观结构分析 (EDS、WDS、Auger、EBSD) 和 AFM 科研工作。

    使用 EM TIX 3X,您几乎可以在室温或冷冻条件下,对任何材料实现高品质的表面处理,尽可能显示样品近自然状态下的内部结构。


    特点:

    高效

    对于离子束研磨机的效率来说,真正重要的是同时具备出色的品质结果和高产量。与前代版本相比,全新版本不仅切割速度提高了一倍,其独特的三离子束系统还优化了制备质量,并缩短了工作时间。

    一次可处理样品多达 3 个, 并可在同一个载物台上进行横切和抛光。

    工作流程解决方案可安全、高效地将样品传输至后续的制备仪器或分析系统。


    灵活的系统 — 随时满足您的需求

    凭借可灵活选择的载物台,Leica EM TIC 3X 不仅是进行高产量处理的理想设备,还适用于委托检测的实验室。根据您的需求,可选择以下可互换的载物台对 Leica EM TIC 3X 进行个性化配置:

    标准载物台

    多样品载物台

    旋转载物台

    冷却载物台或

    真空冷冻传输对接台

    用于制备标准样品、高产量处理,以及在低温条件下制备对高温异常敏感的样品,例如聚合物、橡胶或生物材料。


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